日前，北方民族大學(xué)劉俊杰教授應(yīng)邀來(lái)我校開(kāi)展學(xué)術(shù)交流，并作題為《集成電路的現(xiàn)況、展望與可靠性》學(xué)術(shù)報(bào)告。
報(bào)告中，劉俊杰以集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展為主題展開(kāi)論述，從產(chǎn)業(yè)概況和關(guān)鍵技術(shù)自主研發(fā)等維度系統(tǒng)梳理了國(guó)內(nèi)外集成電路領(lǐng)域的發(fā)展歷程、當(dāng)前態(tài)勢(shì)及未來(lái)趨勢(shì)。隨后介紹了FinFET、納米線晶體管以及化合物半導(dǎo)體等先進(jìn)器件與材料的實(shí)際應(yīng)用案例。深入淺出地剖析了影響芯片可靠性的多重因素，尤其以靜電防護(hù)為典型案例，深入講解了片上ESD電路的工作原理、設(shè)計(jì)方法及不同工藝下的設(shè)計(jì)案例。報(bào)告結(jié)束后，劉俊杰詳細(xì)解答了現(xiàn)場(chǎng)師生的提問(wèn)，并鼓勵(lì)同學(xué)們積極投身于材料研究、集成電路設(shè)計(jì)等領(lǐng)域，為我國(guó)集成電路發(fā)展貢獻(xiàn)智慧和力量。（集成電路學(xué)院 科學(xué)技術(shù)處 通訊員：趙國(guó)棟 周承波）
